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文献
J-GLOBAL ID:201302270269468612   整理番号:13A1589751

集束イオンビーム加工を持つ共焦点レーザー走査顕微鏡および走査型電子顕微鏡における免疫反応性の相関分析

Correlative analysis of immunoreactivity in confocal laser-scanning microscopy and scanning electron microscopy with focused ion beam milling
著者 (10件):
SONOMURA Takahiro
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
FURUTA Takahiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
NAKATANI Ikuko
(SII NanoTechnol. Inc., Chiba, JPN)
YAMAMOTO Yo
(SII NanoTechnol. Inc., Chiba, JPN)
UNZAI Tomo
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
MATSUDA Wakoto
(Shiga Univ. Medical Sci., Shiga, JPN)
IWAI Haruki
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
YAMANAKA Atsushi
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
UEMURA Masanori
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
KANEKO Takeshi
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)

資料名:
Frontiers in Neural Circuits (Web)  (Frontiers in Neural Circuits (Web))

巻: 2013  号: Feb  ページ: WEB ONLY  発行年: 2013年02月 
JST資料番号: U7037A  ISSN: 1662-5110  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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