文献
J-GLOBAL ID:201302270269468612
整理番号:13A1589751
集束イオンビーム加工を持つ共焦点レーザー走査顕微鏡および走査型電子顕微鏡における免疫反応性の相関分析
Correlative analysis of immunoreactivity in confocal laser-scanning microscopy and scanning electron microscopy with focused ion beam milling
著者 (10件):
SONOMURA Takahiro
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
,
FURUTA Takahiro
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
NAKATANI Ikuko
(SII NanoTechnol. Inc., Chiba, JPN)
,
YAMAMOTO Yo
(SII NanoTechnol. Inc., Chiba, JPN)
,
UNZAI Tomo
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
MATSUDA Wakoto
(Shiga Univ. Medical Sci., Shiga, JPN)
,
IWAI Haruki
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
,
YAMANAKA Atsushi
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
,
UEMURA Masanori
(Kagoshima Univ., Kagoshima, JPN)
,
KANEKO Takeshi
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名:
Frontiers in Neural Circuits (Web)
(Frontiers in Neural Circuits (Web))
巻:
2013
号:
Feb
ページ:
WEB ONLY
発行年:
2013年02月
JST資料番号:
U7037A
ISSN:
1662-5110
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)