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文献
J-GLOBAL ID:201302275095070063   整理番号:13A1793936

Xビット分布に基づく試験圧縮指向ドントケア同定法

A Test Compaction Oriented Don’t Care Identification Method Based on X-bit Distribution
著者 (4件):
YAMAZAKI Hiroshi
(Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.)
WAKAZONO Motohiro
(Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.)
HOSOKAWA Toshinori
(Coll. of Industrial Technol., Nihon Univ.)
YOSHIMURA Masayoshi
(Dep. of Computer Sci. and Communication Engineering, Kyushu Univ.)

資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)  (IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻: E96-D  号:ページ: 1994-2002 (J-STAGE)  発行年: 2013年 
JST資料番号: L1371A  ISSN: 0916-8532  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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