文献
J-GLOBAL ID:201302275095070063
整理番号:13A1793936
Xビット分布に基づく試験圧縮指向ドントケア同定法
A Test Compaction Oriented Don’t Care Identification Method Based on X-bit Distribution
著者 (4件):
YAMAZAKI Hiroshi
(Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.)
,
WAKAZONO Motohiro
(Graduate School of Industrial Technol., Nihon Univ.)
,
HOSOKAWA Toshinori
(Coll. of Industrial Technol., Nihon Univ.)
,
YOSHIMURA Masayoshi
(Dep. of Computer Sci. and Communication Engineering, Kyushu Univ.)
資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E96-D
号:
9
ページ:
1994-2002 (J-STAGE)
発行年:
2013年
JST資料番号:
L1371A
ISSN:
0916-8532
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)