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資料名：
巻： 102 号： 1 ページ： 013115-013115-5 発行年： 2013年01月07日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201302283797523140
整理番号：13A0083368
周波数変調高周波静電力顕微鏡を使った作動しているカーボンナノチューブトランジスタの局所電位プロファイリング
Local potential profiling of operating carbon nanotube transistor using frequency-modulation high-frequency electrostatic force microscopy
ITO Masanao
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
,
KOBAYASHI Kei
(Office of Society-Academia Collaboration for Innovation, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8520, JPN)
,
MIYATO Yuji
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
,
MATSUSHIGE Kazumi
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
,
YAMADA Hirofumi
(Dep. of Electronic Sci. and Engineering, Kyoto Univ., Katsura, Nishikyo, Kyoto 615-8510, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 102 号： 1 ページ： 013115-013115-5 発行年： 2013年01月07日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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