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J-GLOBAL ID：201402204932551418 整理番号：14A1126620

Si Auger電子Si 2s光電子コインシデンス測定により明らかになったSi(111)-7×7におけるSi 2s内殻正孔の緩和過程

Decay Processes of Si 2s Core Holes in Si(111)-7×7 Revealed by Si Auger Electron Si 2s Photoelectron Coincidence Measurements

著者 (16件)：

MASE Kazuhiko

(KEK, Ibaraki, JPN)

MASE Kazuhiko

(Graduate Univ. Advanced Studies, Ibaraki, JPN)

HIRAGA Kenta

(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)

ARAE Sadanori

(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)

KANEMURA Rui

(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)

TAKANO Yusaku

(Gunma Univ., Maebashi, JPN)

YANASE Kotaro

(Gunma Univ., Maebashi, JPN)

OGASHIWA Yosuke

(Gunma Univ., Maebashi, JPN)

SHOHATA Nariaki

(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)

KANAYAMA Noritsugu

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

KAKIUCHI Takuhiro

(Ehime Univ., Matsuyama, JPN)

OHNO Shinya

(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)

SEKIBA Daiichiro

(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)

OKUDAIRA Koji K.

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

OKUSAWA Makoto

(Gunma Univ., Maebashi, JPN)

TANAKA Masatoshi

(Yokohama National Univ., Yokohama, JPN)

資料名：

Journal of the Physical Society of Japan (Journal of the Physical Society of Japan)

巻： 83 号： 9 ページ： 094704.1-094704.5 発行年： 2014年09月15日
JST資料番号： G0509A ISSN： 0031-9015 CODEN： JUPSA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

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