文献
J-GLOBAL ID:201402216736908586
整理番号:14A0891246
Ge基板中のAs高効率活性化と低抵抗浅接合形成
Efficient Activation of As+ Ion implantation into Ge substrate for Formation of Low-Resistive Shallow Junction
著者 (9件):
浜田慎也
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
村上秀樹
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
小野貫寛
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
橋本邦明
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
大田晃生
(名古屋大 大学院工学研究科)
,
大田晃生
(名古屋大 ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー)
,
花房宏明
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
東清一郎
(広島大 大学院先端物質科学研究科)
,
宮崎誠一
(名古屋大 大学院工学研究科)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
114
号:
88(SDM2014 43-61)
ページ:
27-30
発行年:
2014年06月12日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)