文献
J-GLOBAL ID:201402276823128522
整理番号:14A0706498
Pd-Cu-Ge金属ガラス薄膜に関する熱処理による構造変化のX線反射率を用いた検出
Detection of structural change of Pd-Cu-Ge metallic glass thin films upon heat treatment by using X-ray reflectivity
著者 (4件):
YAMAMOTO Tokujiro
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
HAYASHI Kouichi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SUZUKI Kosuke
(Gunma Univ., Gunma, JPN)
,
ITO Masahisa
(Gunma Univ., Gunma, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
53
号:
5S1
ページ:
05FH03.1-05FG03.4
発行年:
2014年05月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)