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J-GLOBAL ID:201402277800912737   整理番号:14A1098069

硬X線光電子分光法によるIn2O3単結晶の電子状態評価

著者 (10件):
長田貴弘
(物質・材料研究機構)
BIERWAGEN O.
(パウル・ドルーテ固体電子工学研)
GALAZKA Z.
(ライプニッツ結晶成長研)
上田茂典
(物質・材料研究機構)
吉川英樹
(物質・材料研究機構)
井村将隆
(物質・材料研究機構)
山下良之
(物質・材料研究機構)
OH S.
(物質・材料研究機構)
坂田修身
(物質・材料研究機構)
知京豊裕
(物質・材料研究機構)

資料名:
応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))

巻: 75th  ページ: ROMBUNNO.17P-PA5-14  発行年: 2014年09月01日 
JST資料番号: Y0055B  ISSN: 2758-4704  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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