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著者 (7件)：
資料名：
巻： 104 号： 11 ページ： 114103-114103-4 発行年： 2014年03月17日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201402279582171099
整理番号：14A0443723
5MeV C60+イオンを用いた透過二次イオン質量分析
Transmission secondary ion mass spectrometry using 5 MeV C60+ ions
NAKAJIMA K.
(Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
,
NAGANO K.
(Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
,
SUZUKI M.
(Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
,
NARUMI K.
(Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN)
,
SAITOH Y.
(Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN)
,
HIRATA K.
(National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Higashi, Tsukuba ...)
,
KIMURA K.
(Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 104 号： 11 ページ： 114103-114103-4 発行年： 2014年03月17日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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