文献
J-GLOBAL ID:201402289839040867
整理番号:14A1387285
イオン液体技術を用いる集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)による染色体内部の観察
Chromosome Interior Observation by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy (FIB/SEM) Using Ionic Liquid Technique
著者 (10件):
HAMANO Tohru
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
DWIRANTI Astari
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KANEYOSHI Kohei
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
FUKUDA Shota
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KOMETANI Reo
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
NAKAO Masayuki
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
TAKATA Hideaki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
UCHIYAMA Susumu
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
OHMIDO Nobuko
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
,
FUKUI Kiichi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Microscopy and Microanalysis
(Microscopy and Microanalysis)
巻:
20
号:
5
ページ:
1340-1347
発行年:
2014年10月
JST資料番号:
W1587A
ISSN:
1431-9276
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)