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文献
J-GLOBAL ID:201402289839040867   整理番号:14A1387285

イオン液体技術を用いる集束イオンビーム/走査電子顕微鏡(FIB/SEM)による染色体内部の観察

Chromosome Interior Observation by Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy (FIB/SEM) Using Ionic Liquid Technique
著者 (10件):
HAMANO Tohru
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
DWIRANTI Astari
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
KANEYOSHI Kohei
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
FUKUDA Shota
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
KOMETANI Reo
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
NAKAO Masayuki
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
TAKATA Hideaki
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
UCHIYAMA Susumu
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
OHMIDO Nobuko
(Kobe Univ., Kobe, JPN)
FUKUI Kiichi
(Osaka Univ., Osaka, JPN)

資料名:
Microscopy and Microanalysis  (Microscopy and Microanalysis)

巻: 20  号:ページ: 1340-1347  発行年: 2014年10月 
JST資料番号: W1587A  ISSN: 1431-9276  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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