文献
J-GLOBAL ID:201402298287631104
整理番号:14A0984379
電子ビーム誘導電流法によるSi(001)基板上の無添加n-BaSi2エピタキシャル薄膜の少数キャリア拡散長の評価
Evaluation of minority carrier diffusion length of undoped n-BaSi2 epitaxial thin films on Si(001) substrates by electron-beam-induced-current technique
著者 (10件):
BABA Masakazu
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
WATANABE Kentaro
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
WATANABE Kentaro
(National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
HARA Kosuke O.
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
TOKO Kaoru
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SEKIGUCHI Takashi
(National Inst. for Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
USAMI Noritaka
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
USAMI Noritaka
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
,
SUEMASU Takashi
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
SUEMASU Takashi
(JST-CREST, Tokyo, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
53
号:
7
ページ:
078004.1-078004.3
発行年:
2014年07月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)