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文献
J-GLOBAL ID:201502216252278977   整理番号:15A1057768

ミリメートル波長の金属スリットプローブを用いた近接場走査電子顕微鏡のコントラスト解析

Contrast analysis of near-field scanning microscopy using a metal slit probe at millimeter wavelengths
著者 (4件):
NOZOKIDO Tatsuo
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
ISHINO Manabu
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
SETO Ryosuke
(Graduate School of Sci. and Engineering for Rsesearch, Univ. of Toyama, 3190 Gofuku, Toyama 930-8555, JPN)
BAE Jongsuck
(Dep. of Engineering Physics, Electronics, and Mechanics, Nagoya Inst. of Technol., Gokiso, Showa-ku, Nagoya 466-8555 ...)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 118  号: 11  ページ: 114905-114905-8  発行年: 2015年09月21日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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