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文献
J-GLOBAL ID:201502247746112895   整理番号:15A0674785

フレキシブルなマイクロストリップライン型プローブを用いた極薄磁性膜の透磁率測定

Permeability Measurements of Very Thin Magnetic Film Using a Flexible Microstrip-Line-Type Probe
著者 (7件):
KUSUNOKI K.
(Sendai National Coll. of Technol.)
YABUKAMI S.
(Tohoku Gakuin Univ.)
OZAWA T.
(Tohoku Gakuin Univ.)
UETAKE H.
(Tohoku Gakuin Univ.)
YAMADA H.
(Sendai National Coll. of Technol.)
MIYAZAWA Y.
(Toei Scientific Industrial Co. Ltd)
SHIMADA Y.
(Graduate School of Engineering, Tohoku Univ.)

資料名:
Journal of the Magnetics Society of Japan  (Journal of the Magnetics Society of Japan)

巻: 39  号:ページ: 111-115 (J-STAGE)  発行年: 2015年 
JST資料番号: Z0944A  ISSN: 1882-2924  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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