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文献
J-GLOBAL ID:201502252143974411   整理番号:15A0207613

高空間分解能の表面プラズモン顕微鏡による細胞-電極分裂ギャップ距離の無標識測定

Label-Free Measurement of Cell-Electrode Cleft Gap Distance with High Spatial Resolution Surface Plasmon Microscopy
著者 (4件):
TOMA Koji
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
TOMA Koji
(Muroran Inst. of Technol., Hokkaido, JPN)
KANO Hiroshi
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)
OFFENHAEUSSER Andreas
(Forschungszentrum Juelich GmbH, Juelich, DEU)

資料名:
ACS Nano  (ACS Nano)

巻:号: 12  ページ: 12612-12619  発行年: 2014年12月 
JST資料番号: W2326A  ISSN: 1936-0851  CODEN: ANCAC3  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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