文献
J-GLOBAL ID:201502257366310010
整理番号:15A0671450
Arプラズマエッチングを利用した素子分離プロセスによるhigh-k/金属ゲートMoS2電界効果トランジスタの作製
Fabrication of high-k/metal-gate MoS2 field-effect transistor by device isolation process utilizing Ar-plasma etching
著者 (8件):
NINOMIYA Naruki
(Yokohama National Univ.(YNU), Yokohama, JPN)
,
MORI Takahiro
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN)
,
UCHIDA Noriyuki
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN)
,
WATANABE Eiichiro
(National Inst. Materials Sci.(NIMS), Ibaraki, JPN)
,
TSUYA Daiju
(National Inst. Materials Sci.(NIMS), Ibaraki, JPN)
,
MORIYAMA Satoshi
(National Inst. Materials Sci.(NIMS), Ibaraki, JPN)
,
TANAKA Masatoshi
(Yokohama National Univ.(YNU), Yokohama, JPN)
,
ANDO Atsushi
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol.(AIST), Ibaraki, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
54
号:
4
ページ:
046502.1-046502.4
発行年:
2015年04月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)