文献
J-GLOBAL ID:201502291329503015
整理番号:15A0201689
高圧マイクロプラズマ中の電子密度決定のための微視的ヘテロダイン干渉計測
Microscopic heterodyne interferometry for determination of electron density in high-pressure microplasma
著者 (5件):
URABE Keiichiro
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
URABE Keiichiro
(Japan Soc. for the Promotion of Sci., Tokyo, JPN)
,
MUNEOKA Hitoshi
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
STAUSS Sven
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
,
TERASHIMA Kazuo
(Univ. Tokyo, Chiba, JPN)
資料名:
Plasma Sources Science and Technology
(Plasma Sources Science and Technology)
巻:
23
号:
6
ページ:
064007,1-9
発行年:
2014年12月
JST資料番号:
W0479A
ISSN:
0963-0252
CODEN:
PSTEEU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)