文献
J-GLOBAL ID:201602204410316384
整理番号:16A0260077
オフ角シリコン基板上に製膜したβ-FeSi2RFスパッタ膜におけるシリコン結晶粒の偏在
Uneven Distribution of Silicon Crystalline Grains in RF-Sputtered β-FeSi2 Films Deposited on Off-Oriented Silicon Substrate
著者 (3件):
UEMATSU T.
(Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Sci. and Engineering, Kansai Univ.)
,
NAKAMURA K.
(Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Sci. and Engineering, Kansai Univ.)
,
NAKAMURA K.
(Dep. of Electrical and Electronic Engineering, Fac. of Engineering Sci., Kansai Univ.)
資料名:
Transactions of the Materials Research Society of Japan
(Transactions of the Materials Research Society of Japan)
巻:
41
号:
1
ページ:
97-100 (J-STAGE)
発行年:
2016年
JST資料番号:
L4468A
ISSN:
1382-3469
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)