文献
J-GLOBAL ID:201602230032966125
整理番号:16A1229180
EMCラウンドロビンテストにおけるエミッションおよびイミュニティ試験の研究報告 その2 放射イミュニティラウンドロビンテストの実験結果
Results of EMC round robin test on emission and immunity test. (2) Radiated immunity round robin test
著者 (7件):
奥田徳嗣
(KEC関西電子工業振興センター)
,
井上正弘
(KEC関西電子工業振興センター)
,
志田浩義
(トーキンEMCエンジニアリング)
,
二宮寿
(ローランド)
,
正岡賢治
(KEC関西電子工業振興センター)
,
山中稔
(UL Japan)
,
和田修己
(京大 大学院工学研究科)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
116
号:
253(EMCJ2016 60-83)
ページ:
5-10
発行年:
2016年10月13日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)