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J-GLOBAL ID：201602258734666815 整理番号：16A0471825

集束イオンビーム法による単一カーボンナノコイルの精密測定

Precise measurement of single carbon nanocoils using focused ion beam technique

著者 (7件)：

Nakamura Yasushi

(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)

Suda Yoshiyuki

(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)

Kunimoto Ryuji

(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)

Iida Tamio

(Dep. of Electrical and Computer Engineering, National Inst. of Technol., Gifu Coll., Motosu, Gifu 501-0495, Japan)

Takikawa Hirofumi

(Dep. of Electrical and Electronic Information Engineering, Toyohashi Univ. of Technol., Toyohashi, Aichi 441-8580, Japan)

Ue Hitoshi

(Fuji Res. Lab., Tokai Carbon Co., Ltd., Oyama, Shizuoka 410-1431, Japan)

Shima Hiroyuki

(Dep. of Environmental Sci.s, Univ. of Yamanashi, Kofu, Yamanashi 400-8510, Japan)

資料名：

Applied Physics Letters (Applied Physics Letters)

巻： 108 号： 15 ページ： 153108-153108-4 発行年： 2016年04月11日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

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