文献
J-GLOBAL ID:201602263956924717
整理番号:16A0638066
圧電位置制御を持つ安定なサーモリフレクタンス熱イメージング顕微鏡【Powered by NICT】
Stable thermoreflectance thermal imaging microscopy with piezoelectric position control
著者 (8件):
Shakouri Alexander
(Microsanj, LLC, Santa Clara, CA, USA)
,
Ziabari Amirkoushyar
(Birck Nanotechnol. Center, Purdue Univ., West Lafayette, IN, USA)
,
Kendig Dustin
(Microsanj, LLC, Santa Clara, CA, USA)
,
Je-Hyeong Bahk
(Birck Nanotechnol. Center, Purdue Univ., West Lafayette, IN, USA)
,
Yi Xuan
(Birck Nanotechnol. Center, Purdue Univ., West Lafayette, IN, USA)
,
Ye Peide D.
(Birck Nanotechnol. Center, Purdue Univ., West Lafayette, IN, USA)
,
Yazawa Kazuaki
(Microsanj, LLC, Santa Clara, CA, USA)
,
Shakouri Ali
(Microsanj, LLC, Santa Clara, CA, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
SEMI-THERM
ページ:
128-132
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)