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著者 (5件)：
資料名：
巻： 24 号： 6 ページ： 2208-2219 発行年： 2016年
JST資料番号： W0516A ISSN： 1063-8210 CODEN： ITCOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201602276617919940
整理番号：16A0601651
NANDフラッシュ/SCMハイブリッドソリッド・ステート・ドライブの性能と信頼性の間の関係を理解する【Powered by NICT】
Understanding the Relation Between the Performance and Reliability of nand Flash/SCM Hybrid Solid-State Drive
Tanakamaru Shuhei
(Research and Development Initiative, Chuo University, Tokyo, Japan)
,
Hosaka Shogo
(Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan)
,
Johguchi Koh
(Research and Development Initiative, Chuo University, Tokyo, Japan)
,
Takishita Hirofumi
(Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan)
,
Takeuchi Ken
(Department of Electrical, Electronic, and Communication Engineering, Chuo University, Tokyo, Japan)
資料名：
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻： 24 号： 6 ページ： 2208-2219 発行年： 2016年
JST資料番号： W0516A ISSN： 1063-8210 CODEN： ITCOB4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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