文献
J-GLOBAL ID:201602278220891853
整理番号:16A1098508
放射線環境におけるDPSAバイポーラ接合トランジスタの信頼性【Powered by NICT】
Reliability of DPSA bipolar junction transistors in radiation environment
著者 (6件):
Wu Xue
(Science and Technology on Analog Integrated Circuit, Laboratory, Chongqing, China)
,
Zhang Peijian
(Science and Technology on Analog Integrated Circuit, Laboratory, Chongqing, China)
,
Tang Zhaohuan
(Science and Technology on Analog Integrated Circuit, Laboratory, Chongqing, China)
,
Tan Kaizhou
(Science and Technology on Analog Integrated Circuit, Laboratory, Chongqing, China)
,
Lu Wu
(Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry Chinese, Academy of Sciences, Urumqi, Xinjiang, China)
,
Jia Jincheng
(Xinjiang Technical Institute of Physics and Chemistry Chinese, Academy of Sciences, Urumqi, Xinjiang, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
INEC
ページ:
1-2
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)