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文献
J-GLOBAL ID:201602282393542569   整理番号:16A1194543

軟X線共鳴散乱によるP3HT:PCBM混合薄膜の分域構造と電子状態

Domain structure and electronic state in P3HT:PCBM blend thin films by soft X-ray resonant scattering
著者 (6件):
Kubota M.
(Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki 319-1195, Japan)
Sakurai T.
(Tsukuba University, 1-1-1, Tennoudai, Tsukuba-shi, Ibaraki 305-8577, Japan)
Miyadera T.
(PRESTO, Japan Science and Technology Agency (JST), 4-1-8, Honcho, Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan)
Nakao H.
(Condensed Matter Research Center and PF, IMSS, KEK, Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan)
Sugita T.
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
Yoshida Y.
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 120  号: 16  ページ: 165501-165501-5  発行年: 2016年10月28日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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