文献
J-GLOBAL ID:201602282393542569
整理番号:16A1194543
軟X線共鳴散乱によるP3HT:PCBM混合薄膜の分域構造と電子状態
Domain structure and electronic state in P3HT:PCBM blend thin films by soft X-ray resonant scattering
著者 (6件):
Kubota M.
(Japan Atomic Energy Agency (JAEA), 2-4 Shirakata Tokai-mura, Naka-gun, Ibaraki 319-1195, Japan)
,
Sakurai T.
(Tsukuba University, 1-1-1, Tennoudai, Tsukuba-shi, Ibaraki 305-8577, Japan)
,
Miyadera T.
(PRESTO, Japan Science and Technology Agency (JST), 4-1-8, Honcho, Kawaguchi, Saitama 332-0012, Japan)
,
Nakao H.
(Condensed Matter Research Center and PF, IMSS, KEK, Tsukuba, Ibaraki 305-0801, Japan)
,
Sugita T.
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
,
Yoshida Y.
(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
120
号:
16
ページ:
165501-165501-5
発行年:
2016年10月28日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)