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著者 (9件)：
資料名：
巻： 2016 号： IEDM ページ： 16.6.1-16.6.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702215728517264
整理番号：17A0214247
非常に雑音の多い入力データにおける信頼性の高い検出のためのOxRAM多重kビットアレイを用いた短期および長期シナプス可塑性の実験的実証【Powered by NICT】
Experimental demonstration of short and long term synaptic plasticity using OxRAM multi k-bit arrays for reliable detection in highly noisy input data
Werner T.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Vianello E.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Bichler O.
(CEA, LIST, Saclay, France)
,
Grossi A.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Nowak E.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Nodin J.-F.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Yvert B.
(INSERM, Clinatec, UA01, France)
,
DeSalvo B.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
,
Perniola L.
(CEA, LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： IEDM ページ： 16.6.1-16.6.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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