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著者 (6件)：
資料名：
巻： 63 ページ： 320-324 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702218508448136
整理番号：17A0317019
マイクロエレクトロニクス製品のための融合予測ベース認定試験方法論【Powered by NICT】
A fusion prognostics-based qualification test methodology for microelectronic products
Pecht Michael
(IEEE, USA)
,
Pecht Michael
(Center for Advanced Life Cycle Engineering, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA)
,
Shibutani Tadahiro
(National University, Yokohama 240-8501, Japan)
,
Kang Myeongsu
(Center for Advanced Life Cycle Engineering, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA)
,
Hodkiewicz Melinda
(School of Mechanical and Chemical Engineering, University of Western Australia, Crawley, WA, Australia)
,
Cripps Edward
(School of Mathematics and Statistics, University of Western Australia, Crawley, WA, Australia)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 63 ページ： 320-324 発行年： 2016年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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