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文献
J-GLOBAL ID:201702221190440625   整理番号:17A0055453

銀基板上に成長させたAlGaN/GaN/AlN FETの高信頼性長期運転【Powered by NICT】

Highly reliable long-term operation of AlGaN/GaN/AlN HFETs grown on silver substrate
著者 (10件):
Fox A.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)
Mikulics M.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)
Marso M.
(Faculte ́ des Sciences, de la Technologie et de la Communication, Universite ́ du Luxembourg, L-1359 Luxembourg)
Kocan M.
(School of Electrical, Electronic and Computer Engineering, University of Western Australia, Crawley, WA, Australia)
Sofer Z.
(Dept. of Inorganic Chemistry, Institute of Chemical Technology, Prague, Technicka ́ 5, 166 28 Prague 6, Czech Republic)
Kordos P.
(Institute of Electronics and Photonics, Slovak Technical University, SK-81219 Bratislava, Slovak Republic)
Luth H.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)
Schubert J.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)
Grutzmacher D.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)
Hardtdegen H.
(Peter Gruenberg Institute (PGI-9), Forschungszentrum Juelich, 52425 Juelich, Germany)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2016  号: ASDAM  ページ: 65-68  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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