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著者 (6件)：
資料名：
巻： 2016 号： ECCE ページ： 1-7 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702224513064775
整理番号：17A0275738
製造プロセスに起因する残留ひずみの影響と電磁解析のための実用的アプローチ【Powered by NICT】
A practical approach for electromagnetic analysis with the effect of the residual strain due to manufacturing processes
Sano Hiroyuki
(JSOL Corporation, Ltd, Tokyo, Japan)
,
Narita Katsuyuki
(JSOL Corporation, Ltd, Tokyo, Japan)
,
Zeze Eri
(JSOL Corporation, Ltd, Tokyo, Japan)
,
Yamada Takashi
(JSOL Corporation, Ltd, Tokyo, Japan)
,
Kazuki Ueta
(Shibaura Institute of Technology, Tokyo, Japan)
,
Akatsu Kan
(Shibaura Institute of Technology, Tokyo, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： ECCE ページ： 1-7 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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