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文献
J-GLOBAL ID:201702227248481350   整理番号:17A0083508

位相検索と確定的アプローチの組み合わせによるマスク欠陥の精密な特性付け

Accurate characterization of mask defects by combination of phase retrieval and deterministic approach
著者 (6件):
PARK Min-Chul
(Korea Univ. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
PARK Min-Chul
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
LEPORTIER Thibault
(Korea Univ. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
LEPORTIER Thibault
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
KIM Wooshik
(Sejong Univ., Seoul, KOR)
SONG Jindong
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 9867  ページ: 986712.1-986712.8  発行年: 2016年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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