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文献
J-GLOBAL ID:201702234377047890   整理番号:17A1090452

改良型オーバレイ制御用のパターン形成ウエハ幾何形状のグループ化

Patterned Wafer Geometry Grouping for Improved Overlay Control
著者 (13件):
LEE Honggoo
(SK Hynix, Gyeonggi-do, KOR)
HAN Sangjun
(SK Hynix, Gyeonggi-do, KOR)
WOO Jaeson
(SK Hynix, Gyeonggi-do, KOR)
PARK Junbeom
(SK Hynix, Gyeonggi-do, KOR)
SONG Changrock
(SK Hynix, Gyeonggi-do, KOR)
ANIS Fatima
(KLA-Tencor Corp., CA)
VUKKADALA Pradeep
(KLA-Tencor Corp., CA)
JEON Sanghuck
(KLA-Tencor Korea, Gyeonggi-do, KOR)
CHOI DongSub
(KLA-Tencor Korea, Gyeonggi-do, KOR)
HUANG Kevin
(KLA-Tencor Corp., CA)
HEO Hoyoung
(KLA-Tencor Corp., CA)
SMITH Mark D
(KLA-Tencor Corp., CA)
ROBINSON John C.
(KLA-Tencor Corp., CA)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 10145  号: Pt.1  ページ: 101450O.1-101450O.8  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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