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J-GLOBAL ID:201702243323276724   整理番号:17A0659256

植物試料からの樹脂切片の後方散乱電子SEMイメージング:組織学的に細胞内構造とCLEMの観察【Powered by NICT】

Backscattered electron SEM imaging of resin sections from plant specimens: observation of histological to subcellular structure and CLEM
著者 (4件):
RIZZO N.W.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
DUNCAN K.E.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
BOURETT T.M.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
HOWARD R.J.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)

資料名:
Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)

巻: 263  号:ページ: 142-147  発行年: 2016年 
JST資料番号: B0454B  ISSN: 0022-2720  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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