文献
J-GLOBAL ID:201702243323276724
整理番号:17A0659256
植物試料からの樹脂切片の後方散乱電子SEMイメージング:組織学的に細胞内構造とCLEMの観察【Powered by NICT】
Backscattered electron SEM imaging of resin sections from plant specimens: observation of histological to subcellular structure and CLEM
著者 (4件):
RIZZO N.W.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
DUNCAN K.E.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
BOURETT T.M.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
,
HOWARD R.J.
(DuPont Pioneer, Wilmington, Delaware, U.S.A.)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
263
号:
2
ページ:
142-147
発行年:
2016年
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)