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著者 (5件)：
資料名：
巻： 37 号： 8 ページ： 1059-1062 発行年： 2016年
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702244177505057
整理番号：17A0027172
H2/Ar ECRプラズマ処理によるCdTeガンマ線検出器の性能向上
Improving the Performances of CdTe Gamma Ray Detectors by H2/Ar ECR Plasma Processing
Niraula M.
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya, Japan)
,
Yasuda K.
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya, Japan)
,
Kitagawa S.
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya, Japan)
,
Kojima M.
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya, Japan)
,
Agata Y.
(Graduate School of Engineering, Nagoya Institute of Technology, Nagoya, Japan)
資料名：
IEEE Electron Device Letters
(IEEE Electron Device Letters)
巻： 37 号： 8 ページ： 1059-1062 発行年： 2016年
JST資料番号： B0344B ISSN： 0741-3106 CODEN： EDLEDZ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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