文献
J-GLOBAL ID:201702244393969139
整理番号:17A0606060
40GHzまでのフレキシブルマイクロストリップ線路型プローブを用いた薄膜の透磁率測定
Permeability Measurements of Thin Film Using a Flexible Microstrip Line-Type Probe Up To 40 GHz
著者 (8件):
Yabukami S.
(Tohoku Gakuin University)
,
Kusunoki K.
(Sendai National College of Technology)
,
Uetake H.
(Tohoku Gakuin University)
,
Yamada H.
(Sendai National College of Technology)
,
Ozawa T.
(Tohoku Gakuin University)
,
Utsumi R.
(Toei Scientific Industrial Company Ltd.)
,
Moriizumi T.
(Candox Systems Inc.)
,
Shimada Y.
(Graduate School of Engineering, Tohoku University)
資料名:
Journal of the Magnetics Society of Japan (Web)
(Journal of the Magnetics Society of Japan (Web))
巻:
41
号:
2
ページ:
25-28(J-STAGE)
発行年:
2017年
JST資料番号:
U0776A
ISSN:
1882-2932
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)