文献
J-GLOBAL ID:201702252131097807
整理番号:17A1810876
地上での放射線誘起ビット反転に対する耐災害コンピューティング用のスピントロニクス材料とデバイスのメモリ信頼性
Memory reliability of spintronic materials and devices for disaster-resilient computing against radiation-induced bit flips on the ground
著者 (6件):
HIROSE Kazuyuki
(Japan Aerospace Exploration Agency, Sagamihara, JPN)
,
HIROSE Kazuyuki
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KOBAYASHI Daisuke
(Japan Aerospace Exploration Agency, Sagamihara, JPN)
,
KOBAYASHI Daisuke
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
ITO Taichi
(Japan Aerospace Exploration Agency, Ibaraki, JPN)
,
ENDOH Tetsuo
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
56
号:
8
ページ:
0802A5.1-0802A5.4
発行年:
2017年08月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)