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J-GLOBAL ID:201702252712406748   整理番号:17A0492947

放射されたイオン数の統計的分布の分析によるサブMeVのC60イオン衝突の二次イオン放出過程のキャラクタリゼーション

Characterization of secondary ion emission processes of sub-MeV C60 ion impacts via analysis of statistical distributions of the emitted ion number
著者 (5件):
Hirata K.
(National Metrology Institute of Japan, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), 1-1-1 Higashi, Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan)
Yamada K.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
Chiba A.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
Narumi K.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)
Saitoh Y.
(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 1233 Watanuki, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)

資料名:
Journal of Chemical Physics  (Journal of Chemical Physics)

巻: 145  号: 23  ページ: 234311-234311-5  発行年: 2016年12月21日 
JST資料番号: C0275A  ISSN: 0021-9606  CODEN: JCPSA6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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