文献
J-GLOBAL ID:201702253930161330
整理番号:17A0023907
ネットワーク解析のための深い学習:問題,アプローチおよび課題【Powered by NICT】
Deep learning for network analysis: Problems, approaches and challenges
著者 (6件):
Pal Siddharth
(Raytheon BBN Technologies, United States)
,
Dong Yuxiao
(University of Notre Dame, United States)
,
Thapa Bishal
(Raytheon BBN Technologies, United States)
,
Chawla Nitesh V.
(University of Notre Dame, United States)
,
Swami Ananthram
(Army Research Lab, United States)
,
Ramanathan Ram
(Raytheon BBN Technologies, United States)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
MILCOM
ページ:
588-593
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)