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文献
J-GLOBAL ID:201702254184491977   整理番号:17A1256457

しきい値電圧変動の免疫のための直接測定のためのV_thシフト可能なSRAMセルTEGs【Powered by NICT】

Vth-shiftable SRAM cell TEGs for direct measurement for the immunity of the threshold voltage variability
著者 (6件):
Yamaguchi Shogo
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
Imi Hitoshi
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
Tokumaru Shogo
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
Kondo Takahiro
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
Yamamoto Hiromasa
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)
Nakamura Kazuyuki
(Center for Microelectronic Systems, Kyushu Institute of Technology, 680-4 Kawazu, Iizuka, Fukuoka 820-8502, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: ICMTS  ページ: 1-3  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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