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J-GLOBAL ID：201702259999286170 整理番号：17A1382869

単一MeV C_60イオン衝撃により誘起された局所加熱【Powered by NICT】

Local heating induced by single MeV C₆₀ ion impacts

著者 (8件)：

Hayashi H.

(Department of Micro Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)

Matsuzaki S.

(Department of Micro Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)

Nakajima K.

(Department of Micro Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)

Narumi K.

(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, QST, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)

Saitoh Y.

(Takasaki Advanced Radiation Research Institute, QST, Takasaki, Gumma 370-1292, Japan)

Tsujimoto M.

(Institute for Integrated Cell-Material Sciences, Kyoto University, Kyoto 606-8501, Japan)

Toulemonde M.

(CIMAP-GANIL (CEA-CNRS-ENSICAEN-Universite de Caen Basse Normandie), Bd. H. Becquerel, 14070 Caen, France)

Kimura K.

(Department of Micro Engineering, Kyoto University, Kyoto 615-8540, Japan)

資料名：

Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)

巻： 406 号： PB ページ： 591-595 発行年： 2017年
JST資料番号： H0899A ISSN： 0168-583X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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