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著者 (8件)：
資料名：
巻： 2016 号： ITC ページ： 1-10 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702262405842552
整理番号：17A0057267
使い方廃クロックサイクルを入れる:スキャンシフト捕獲を用いて強化された偶然の細胞を意識した故障検出【Powered by NICT】
Putting wasted clock cycles to use: Enhancing fortuitous cell-aware fault detection with scan shift capture
Zhang Fanchen
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
,
Hwong Daphne
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
,
Sun Yi
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
,
Garcia Allison
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
,
Alhelaly Soha
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
,
Shofner Geoff
(NXP Semiconductors, Austin, TX)
,
Winemberg LeRoy
(NXP Semiconductors, Austin, TX)
,
Dworak Jennifer
(Southern Methodist University, Dallas, TX)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： ITC ページ： 1-10 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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