文献
J-GLOBAL ID:201702265383476088
整理番号:17A1251245
HfO2の原子層堆積によるHfS2トランジスタの性能改善【Powered by NICT】
Performance Improvement of HfS2 Transistors by Atomic Layer Deposition of HfO2
著者 (7件):
Kanazawa Toru
(Tokyo Institute of Technology, Meguro, Japan)
,
Amemiya Tomohiro
(Tokyo Institute of Technology, Meguro, Japan)
,
Upadhyaya Vikrant
(Tokyo Institute of Technology, Meguro, Japan)
,
Ishikawa Atsushi
(Okayama University, Okayama, Japan)
,
Tsuruta Kenji
(Okayama University, Okayama, Japan)
,
Tanaka Takuo
(RIKEN, Wako, Japan)
,
Miyamoto Yasuyuki
(Tokyo Institute of Technology, Meguro, Japan)
資料名:
IEEE Transactions on Nanotechnology
(IEEE Transactions on Nanotechnology)
巻:
16
号:
4
ページ:
582-587
発行年:
2017年
JST資料番号:
W1355A
ISSN:
1536-125X
CODEN:
ITNECU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)