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文献
J-GLOBAL ID:201702270886801295   整理番号:17A1090444

7nmおよび5nmロジックノードの計測機能と必要性

Metrology Capabilities and Needs for 7nm and 5nm Logic Nodes
著者 (5件):
BUNDAY Benjamin
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
SOLECKY Eric
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
VAID Alok
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
BELLO A. F.
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
DAI Xintuo
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)

資料名:
Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)

巻: 10145  号: Pt.1  ページ: 101450G.1-101450G.41  発行年: 2017年 
JST資料番号: D0943A  ISSN: 0277-786X  CODEN: PSISDG  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 解説  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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