文献
J-GLOBAL ID:201702270886801295
整理番号:17A1090444
7nmおよび5nmロジックノードの計測機能と必要性
Metrology Capabilities and Needs for 7nm and 5nm Logic Nodes
著者 (5件):
BUNDAY Benjamin
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
,
SOLECKY Eric
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
,
VAID Alok
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
,
BELLO A. F.
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
,
DAI Xintuo
(GLOBALFOUNDRIES, NY, USA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
10145
号:
Pt.1
ページ:
101450G.1-101450G.41
発行年:
2017年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)