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著者 (22件)：
資料名：
巻： 2016 号： IEDM ページ： 10.6.1-10.6.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702275510860561
整理番号：17A0214205
低V_ce(sat)IGBTのための3次元スケーリング原理の実験的検証【Powered by NICT】
Experimental verification of a 3D scaling principle for low Vce(sat) IGBT
Kakushima K.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Hoshii T.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Tsutsui K.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Nakajima A.
(Nat. Inst. Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba, Japan)
,
Nishizawa S.
(Nat. Inst. Advanced Industrial Science and Technology, Tsukuba, Japan)
,
Wakabayashi H.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Muneta I.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Sato K.
(Mitusbishi Electric, Fukuoka, Japan)
,
Matsudai T.
(Toshiba Corp., Tokyo, Japan)
,
Saito W.
(Toshiba Corp., Tokyo, Japan)
,
Saraya T.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Itou K.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Fukui M.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Suzuki S.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Kobayashi M.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Takakura T.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Hiramoto T.
(The University of Tokyo, Tokyo, Japan)
,
Ogura A.
(Meiji University, Kawasaki, Japan)
,
Numasawa Y.
(Meiji University, Kawasaki, Japan)
,
Omura I.
(Kyushu Inst. of Technology, Kitakyushu, Japan)
,
Ohashi H.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
,
Iwai H.
(Tokyo Inst. of Technology, Yokohama, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： IEDM ページ： 10.6.1-10.6.4 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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