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文献
J-GLOBAL ID:201702276384841946   整理番号:17A0500891

先端計測 研究を支える機器開発 日本化学会編 12 集束イオンビーム・レーザーイオン化法による単一微粒子の履歴解析装置

著者 (2件):
藤井正明
(東京工大)
坂本哲夫
(工学院大)

資料名:
CSJ Current Review  (CSJ Current Review)

号: 23  ページ: 132-138,1(4)  発行年: 2016年08月25日 
JST資料番号: F1106A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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