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著者 (7件)：
資料名：
巻： E99.D 号： 11 ページ： 2723-2733(J-STAGE) 発行年： 2016年
JST資料番号： U0469A ISSN： 1745-1361 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702278511259056
整理番号：17A0040921
組み立てたPCBにおけるオープン欠陥の電気的相互接続試験に対する内蔵テスト回路
A Built-in Test Circuit for Electrical Interconnect Testing of Open Defects in Assembled PCBs
Widiant
(Institute of Technology and Science, Tokushima University)
,
HASHIZUME Masaki
(Institute of Technology and Science, Tokushima University)
,
SUENAGA Shohei
(Institute of Technology and Science, Tokushima University)
,
YOTSUYANAGI Hiroyuki
(Institute of Technology and Science, Tokushima University)
,
ONO Akira
(Kagawa National College of Technology)
,
LU Shyue-Kung
(National Taiwan University of Science and Technology)
,
ROTH Zvi
(Florida Atlantic University)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Web)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Web))
巻： E99.D 号： 11 ページ： 2723-2733(J-STAGE) 発行年： 2016年
JST資料番号： U0469A ISSN： 1745-1361 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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