文献
J-GLOBAL ID:201702284231152425
整理番号:17A0328666
三モードスキャンベース試験パラダイム【Powered by NICT】
Trimodal Scan-Based Test Paradigm
著者 (5件):
Mrugalski Grzegorz
(Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA)
,
Rajski Janusz
(Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA)
,
Solecki Jedrzej
(Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA)
,
Tyszer Jerzy
(Faculty of Electronics and Telecommunications, Poznan ́ University of Technology, Poznan ́, Poland)
,
Wang Chen
(Mentor Graphics Corporation, Wilsonville, OR, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
25
号:
3
ページ:
1112-1125
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)