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資料名：
巻： 28 号： 10 ページ： 7121-7125 発行年： 2017年05月
JST資料番号： W0003A ISSN： 0957-4522 CODEN： JMTSAS 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201702285371136482
整理番号：17A0822215
周波数分解スペクトロスコピの方法によるa-Si:Hにおける欠陥PLの測定
Measurements of defect PL in a-Si:H by means of frequency resolved spectroscopy
OGIHARA C.
(Yamaguchi Univ., Ube, JPN)
資料名：
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 28 号： 10 ページ： 7121-7125 発行年： 2017年05月
JST資料番号： W0003A ISSN： 0957-4522 CODEN： JMTSAS 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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