文献
J-GLOBAL ID:201702285895930935
整理番号:17A0057886
1200V単一チップSiC MOSFETとSi IGBTの短絡能力の比較と解析【Powered by NICT】
Comparison and analysis of short circuit capability of 1200V single-chip SiC MOSFET and Si IGBT
著者 (4件):
Sun Jiahui
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
,
Xu Hongyi
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
,
Wu Xinke
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
,
Sheng Kuang
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
SSLChina: IFWS
ページ:
42-45
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)