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文献
J-GLOBAL ID:201702285895930935   整理番号:17A0057886

1200V単一チップSiC MOSFETとSi IGBTの短絡能力の比較と解析【Powered by NICT】

Comparison and analysis of short circuit capability of 1200V single-chip SiC MOSFET and Si IGBT
著者 (4件):
Sun Jiahui
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
Xu Hongyi
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
Wu Xinke
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)
Sheng Kuang
(College of Electrical Engineering, Zhejiang University, Hangzhou, P.R. China)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2016  号: SSLChina: IFWS  ページ: 42-45  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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