文献
J-GLOBAL ID:201702286422950379
整理番号:17A0869325
透明平行平板の測定のための走査偏向プロファイラ
Scanning deflectometric profiler for measurement of transparent parallel plates
著者 (2件):
BITOU Youichi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
,
KONDO Yohan
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN)
資料名:
Applied Optics
(Applied Optics)
巻:
55
号:
32
ページ:
9282-9287
発行年:
2016年11月10日
JST資料番号:
B0026B
ISSN:
1559-128X
CODEN:
APOPAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)