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著者 (5件)：
資料名：
巻： E101.A 号： 7 ページ： 1101-1114(J-STAGE) 発行年： 2018年
JST資料番号： U0466A ISSN： 1745-1337 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：201802213352941267
整理番号：18A1417136
散乱X線を用いた減衰係数の推定精度の向上:基礎的解析
Using Scattered X-Rays to Improve the Estimation Accuracy of Attenuation Coefficients: A Fundamental Analysis
TODA Naohiro
(School of Information Science and Technology, Aichi Prefectural University)
,
NAKAGAMI Tetsuya
(Technical Resources Department, DENSO CREATE INC.)
,
YAMAZAKI Yoichi
(School of Science and Technology/Research Center for Kansei Value Creation, Kwansei Gakuin University)
,
YOSHIOKA Hiroki
(School of Information Science and Technology, Aichi Prefectural University)
,
KOYAMA Shuji
(Brain and Mind Research Center, Nagoya University)
資料名：
IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web)
(IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web))
巻： E101.A 号： 7 ページ： 1101-1114(J-STAGE) 発行年： 2018年
JST資料番号： U0466A ISSN： 1745-1337 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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