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文献
J-GLOBAL ID:201802231001130947   整理番号:18A2161639

有機金属気相エピタクシーによりホモエピタキシャル成長させたSchottky障壁ダイオードのための高純度c面およびm面GaN層の比較

Comparing high-purity c- and m-plane GaN layers for Schottky barrier diodes grown homoepitaxially by metalorganic vapor phase epitaxy
著者 (10件):
NAGAMATSU Kentaro
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
ANDO Yuto
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
YE Zheng
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
BARRY Ousmane I
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
TANAKA Atsushi
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
DEKI Manato
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
NITTA Shugo
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
HONDA Yoshio
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
PRISTOVSEK Markus
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
AMANO Hiroshi
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)

巻: 57  号: 10  ページ: 105501.1-105501.6  発行年: 2018年10月 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  CODEN: JJAPB6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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