文献
J-GLOBAL ID:201802232208245119
整理番号:18A1237786
透過電子顕微鏡用の二次電子(SE)エネルギーアナライザの開発
Development of a secondary electron energy analyzer for a transmission electron microscope
著者 (8件):
MAGARA Hideyuki
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TOMITA Takeshi
(JEOL Ltd., Akishima, JPN)
,
KONDO Yukihito
(JEOL Ltd., Akishima, JPN)
,
SATO Takafumi
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
AKASE Zentaro
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
AKASE Zentaro
(RIKEN, Saitama, JPN)
,
SHINDO Daisuke
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SHINDO Daisuke
(RIKEN, Saitama, JPN)
資料名:
Microscopy
(Microscopy)
巻:
67
号:
2
ページ:
121-124
発行年:
2018年04月
JST資料番号:
W1384A
ISSN:
2050-5698
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)