文献
J-GLOBAL ID:201802242368653553
整理番号:18A1790936
陽電子消滅寿命分光法により評価した結晶Si太陽電池モジュールにおけるエチレン酢酸ビニル封止材の積層界面依存脱アセチル
Lamination-interface-dependent deacetylation of ethylene vinyl acetate encapsulant in crystalline Si photovoltaic modules evaluated by positron annihilation lifetime spectroscopy
著者 (5件):
HAGIHARA Hideaki
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
SATO Hiroaki
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
HARA Yukiko
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
JONAI Sachiko
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
,
MASUDA Atsushi
(National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Ibaraki, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics
(Japanese Journal of Applied Physics)
巻:
57
号:
8
ページ:
082301.1-082301.6
発行年:
2018年08月
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
CODEN:
JJAPB6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)